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產(chǎn)品中心材料樣品檢測(cè)真空探針臺(tái)KT-Z1604T真空探針熱臺(tái)
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KT-Z1604T真空探針熱臺(tái)主要應(yīng)用于傳感器，半導(dǎo)體，光電，集成電路以及封裝的測(cè)試。 廣泛應(yīng)用于復(fù)雜、高速器件的精密電氣測(cè)量的研發(fā)，旨在確保質(zhì)量及可靠性，并縮減研發(fā)時(shí)間和器件制造工藝的成本。
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產(chǎn)品分類(lèi)| 品牌 | 其他品牌 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 自動(dòng)化度 | 手動(dòng) | 產(chǎn)地類(lèi)別 | 國(guó)產(chǎn) |
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子/電池 |
KT-Z1604T真空探針熱臺(tái)主要應(yīng)用于傳感器，半導(dǎo)體，光電，集成電路以及封裝的測(cè)試。 廣泛應(yīng)用于復(fù)雜、高速器件的精密電氣測(cè)量的研發(fā)，旨在確保質(zhì)量及可靠性，并縮減研發(fā)時(shí)間和器件制造工藝的成本。
該真空探針熱臺(tái)的承載臺(tái)為60x60不銹鋼臺(tái)面，臺(tái)面可升溫到350℃。真空腔體設(shè)計(jì)有進(jìn)氣口和抽真空接口。探針臂為X/Y/Z三軸移動(dòng)，三個(gè)方向均可在真空環(huán)境下精密移位調(diào)節(jié)，其中X方向調(diào)節(jié)范圍：0－30mm；y方向調(diào)節(jié)范圍：0－20mm；z方向調(diào)節(jié)范圍：0－20mm；用戶(hù)可根據(jù)需要自行調(diào)節(jié)。使用時(shí)將需檢測(cè)的器件固定在加熱臺(tái)上，再微調(diào)探針支架X/Y/Z 方向行程，通過(guò)顯微鏡觀(guān)察，使探針對(duì)準(zhǔn)檢測(cè)點(diǎn)后，即可進(jìn)行檢測(cè)
真空探針熱臺(tái)產(chǎn)品圖片
| 真空腔體 | |
| 腔體材質(zhì) | 304不銹鋼 |
| 上蓋開(kāi)啟 | 鉸鏈側(cè)開(kāi) |
| 加熱臺(tái)材質(zhì) | 304不銹鋼 |
| 內(nèi)腔體尺寸 | φ160x90mm |
| 觀(guān)察窗尺寸 | Φ70mm |
| 加熱臺(tái)尺寸 | φ60mm |
| 觀(guān)察窗熱臺(tái)間距 | 75mm |
| 加熱臺(tái)溫度 | 35-350℃ |
| 加熱臺(tái)溫控誤差 | ±1℃ |
| 真空度 | 機(jī)械泵≤10Pa 分子泵≤10-3Pa |
| 允許正壓 | ≤0.1MPa |
| 真空抽氣口 | KF25真空法蘭 |
| 氣體進(jìn)氣口 | 3mm-6mm卡套接頭 |
| 電信號(hào)接頭 | SMA轉(zhuǎn)BNC X 4 |
| 電學(xué)性能 | 絕緣電阻 ≥4000MΩ 介質(zhì)耐壓 ≤500V |
| 探針數(shù)量 | 4探針 |
| 探針材質(zhì) | 鎢針 |
| 探針尖 | 10μm |
| 探針移動(dòng)平臺(tái) | |
| X軸移動(dòng)行程 | 30mm ±15mm |
| X軸控制精度 | ≤0.01mm |
| Y軸移動(dòng)行程 | 13mm ±12.5mm |
| Y軸控制精度 | ≤0.01mm |
| Z軸移動(dòng)行程 | 13mm ±12.5mm |
| Z軸控制精度 | ≤0.01mm |
| 電子顯微鏡 | |
| 顯微鏡類(lèi)別 | 物鏡 |
| 物鏡倍數(shù) | 0.7-4.5倍 |
| 工作間距 | 90mm |
| 相機(jī) | sony 高清 |
| 像素 | 1920※1080像素 |
| 圖像接口 | VGA |
| LED可調(diào)光源 | 有 |
| 顯示屏 | 8寸 |
| 放大倍數(shù) | 19-135倍,視場(chǎng)范圍15×13-2.25×1.7mm，小可分辨0.08mm |
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